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Product Center真空低(di)溫探(tan)針臺主要應(ying)用于半(ban)導(dao)體(ti)行(xing)業、光(guang)電行(xing)業、集(ji)成電路以(yi)及封裝的(de)測試。廣(guang)泛應(ying)用于復雜、高速器(qi)件的(de)精密電氣(qi)測量(liang)的(de)研發(fa),旨在確保質量(liang)及可靠性,并縮(suo)減研發(fa)時間和器(qi)件制造工(gong)藝的(de)成本(ben)
KT-Z1604T真空探針熱(re)臺主要應用于傳感器,半導體,光電(dian)(dian),集(ji)成電(dian)(dian)路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件(jian)的精密電(dian)(dian)氣測量(liang)的研發(fa),旨在確保質量(liang)及可靠性(xing),并縮減研發(fa)時間和器件(jian)制造工藝的成本。
氣(qi)敏(min)材料真空探針(zhen)臺主要應用于半導(dao)體行業(ye)(ye)、光電行業(ye)(ye)、集成(cheng)電路以及(ji)封(feng)裝的(de)測試。廣泛應用于復雜、高(gao)速器件的(de)精密電氣(qi)測量的(de)研發,旨在確保質量及(ji)可靠性(xing),并(bing)縮減研發時間和(he)器件制造工藝的(de)成(cheng)本
多功能手(shou)動(dong)探針臺(tai)(tai)精巧型真空腔體(ti)測(ce)試(shi)(shi)腔主要用于(yu)氣體(ti)敏感材(cai)(cai)料(liao)或其(qi)他對環境敏感性材(cai)(cai)料(liao)中的電(dian)信(xin)號測(ce)試(shi)(shi)。測(ce)試(shi)(shi)腔體(ti)內部裝有不銹鋼加熱承載(zai)臺(tai)(tai),臺(tai)(tai)面為(wei)φ30,臺(tai)(tai)面高可升(sheng)溫到(dao)高400℃。臺(tai)(tai)面四周裝有微型3軸可移動(dong)鎢鋼探針,特別適合微小未封(feng)裝的叉指電(dian)極等傳感器測(ce)試(shi)(shi)。