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該氣敏測(ce)試真(zhen)空探針臺的(de)承(cheng)片臺X/Y/Z三(san)個方(fang)(fang)向(xiang)均可在真(zhen)空環境下(xia)調(diao)節，其中X方(fang)(fang)向(xiang)調(diao)節范(fan)(fan)圍(wei)：0－30mm；y方(fang)(fang)向(xiang)調(diao)節范(fan)(fan)圍(wei)：0－13mm；z方(fang)(fang)向(xiang)調(diao)節范(fan)(fan)圍(wei)：0－13mm；用戶可根(gen)據需要自行調(diao)節。使(shi)用時將需檢測(ce)的(de)器件固定在加熱臺上(shang)，再微

小型真空(kong)探針臺高溫(wen)熱臺KT-0904T-R主要用于為被測芯片(pian)提供(gong)一個高溫(wen)的變溫(wen)測量環境(jing)，以便測量分析溫(wen)度變化時芯片(pian)性能參(can)數的變化。腔體(ti)內被測芯片(pian)在真空(kong)環境(jing)中有效避免易受氧化半導體(ti)器件接(jie)觸空(kong)氣(qi)所帶來的測試(shi)結(jie)果誤(wu)差。

高(gao)(gao)溫熱臺小型真空探針(zhen)臺KT-0904T-R在高(gao)(gao)溫真空環境下的芯片測(ce)(ce)(ce)試(shi)、LD/LED/PD測(ce)(ce)(ce)試(shi)、光(guang)纖光(guang)譜特(te)(te)性測(ce)(ce)(ce)試(shi)、材(cai)料(liao)/器(qi)件的IV/CV特(te)(te)性測(ce)(ce)(ce)試(shi)、霍(huo)爾測(ce)(ce)(ce)試(shi)、電磁輸(shu)運特(te)(te)性、高(gao)(gao)頻特(te)(te)性測(ce)(ce)(ce)試(shi)等

Mini真空探針(zhen)臺(tai)KT-0904T是(shi)一款普通型無(wu)高溫低溫系統真空探針(zhen)臺(tai)，尺(chi)寸300mmX260mm，輕便(bian)小喬，功能齊全。可應用(yong)于(yu)導(dao)體/微(wei)電(dian)(dian)(dian)子，電(dian)(dian)(dian)子，機電(dian)(dian)(dian)，物理，化學，材料(liao)，光電(dian)(dian)(dian)，納米，微(wei)機電(dian)(dian)(dian)/MEMS，生物芯(xin)片，航空航天等(deng)科學研究領域，以(yi)及IC設計/制(zhi)造/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等(deng)生產制(zhi)造領域。

高(gao)溫真(zhen)空腔光學測試(shi)KT-Z4019MRL4T，300X300X170（mm） 氣浮(fu)隔振+阻尼隔振+橡膠減震底腳，-196℃至350℃微型(xing)高(gao)低(di)溫探針臺，小巧輕便，功能(neng)齊(qi)全。