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Product Center常溫半導(dao)體測(ce)(ce)試(shi)(shi) 氣敏測(ce)(ce)試(shi)(shi) 大氣探針(zhen)(zhen)臺是一(yi)種用(yong)于半導(dao)體器件電性能(neng)測(ce)(ce)試(shi)(shi)的(de)(de)重(zhong)要(yao)設備(bei),通常由精(jing)密(mi)的(de)(de)機械結構、高(gao)性能(neng)的(de)(de)探針(zhen)(zhen)針(zhen)(zhen)頭(tou)和(he)電性能(neng)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀器組成。探針(zhen)(zhen)臺可(ke)以對半導(dao)體芯片、集成電路和(he)其他微電子(zi)器件進(jin)行直接的(de)(de)電性能(neng)測(ce)(ce)試(shi)(shi),從而為研(yan)究和(he)生產提供有價(jia)值的(de)(de)信(xin)息。探針(zhen)(zhen)臺主要(yao)用(yong)于晶圓加工(gong)之后、封(feng)裝工(gong)藝之前(qian)的(de)(de)CP測(ce)(ce)試(shi)(shi)環節,負(fu)責(ze)晶圓的(de)(de)輸送與定(ding)位(wei),確保從晶圓表面向精(jing)密(mi)儀器輸送更穩(wen)定(ding)的(de)(de)信(xin)號,實現(xian)更加精(jing)確的(de)(de)數據測(ce)(ce)試(shi)(shi)測(ce)(ce)量。
品牌 | 鄭科探 |
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常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺
常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺技術(shu)參數;
屏蔽盒 | |
材質 | 碳(tan)鋼噴塑(su) |
盒體(ti)尺(chi)寸 | 180mmX120mmX80mm |
盒體尺寸 | 約2KG |
盒體(ti)上視窗尺寸(cun) | Φ42mm |
樣品(pin)臺 | |
樣品臺材質 | 鋁合金 (可擴展真(zhen)空吸附)(可擴展與大地絕緣) |
樣品(pin)臺尺寸 | φ30mm |
探針 | |
電信號接頭 | 配線轉接 BNC接頭 BNC三同軸接(jie)頭 SMA 接頭 香蕉插(cha)頭 選其一 線長(chang)1.2米 |
電學性能 | 絕緣電阻 ≥5000MΩ 介質耐(nai)壓 ≤500V 電流噪聲 ≤10pA |
探(tan)針數量 | 4探針(可擴展6探(tan)針) |
探針材質 | 鎢合金探針 (其(qi)他(ta)材(cai)質可選) |
探針尖 | 50μm 或(huo)10μm(其他規(gui)格可(ke)選) |
手動(dong)探針移(yi)動(dong)平臺 | |
移動方式 | 全手動點針 |
X軸移(yi)動行(xing)程 | 15mm ±7.5mm(需(xu)手動推動滑臺) |
X軸(zhou)控(kong)制精度 | ≥500μm |
R軸移(yi)動行程(cheng) | 120° ±60°(需手動旋轉(zhuan)探針桿) |
R軸控制精度 | ≥500μm |
Z軸移動(dong)行(xing)程 | 5mm |
Z軸控(kong)制精度 | ≤50μm(需(xu)手動螺紋調節探針(zhen)桿) |
目前公司已研發生(sheng)產產品十多個系列幾十款產品,產品囊括實驗電(dian)爐 CVD供氣(qi)系統 等離(li)子清洗機(ji) 小型(xing)離(li)子濺(jian)射(she)儀 小型(xing)蒸鍍儀 石英(ying)管真空封口 半導體(ti)等。 主要適用(yong)于科研院校(xiao)(xiao)及(ji)工礦企業在新材料、新能(neng)源(yuan)等領域物理特性及(ji)化學特性的(de)研究,廣銷于各大院校(xiao)(xiao),及(ji)材料研究所。
公(gong)司(si)與國內高校,科(ke)研院所有多層次的合(he)作關(guan)系(xi),建有開(kai)放實驗室(shi),相關(guan)領域的教(jiao)授(shou)、工(gong)程(cheng)師、博士參(can)與公(gong)司(si)產(chan)品的研究和(he)開(kai)發。我(wo)們秉承公(gong)司(si)的發展理念,依(yi)靠嚴謹的技術研發能(neng)力(li),科(ke)學合(he)理的生產(chan)工(gong)藝,精益求(qiu)精的制造要求(qiu),全心全意做(zuo)好產(chan)品質量和(he)服務(wu)工(gong)作,科(ke)探儀器時刻(ke)懷著(zhu)一顆(ke)真誠的心期待與您的合(he)作。